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Application of the microoptical construction kit to a microoptical distance sensor

Sieber, I.; Hofmann, A.; Hollenbach, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-8007-2791-9
KITopen-ID: 170055918
HGF-Programm 41.08.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten 381-86
Erscheinungsvermerk MICRO.tec 2003 : Applications - Trends - Visions ; Proc.of the 2nd VDE World Microtechnologies Congress, München, October 13-15, 2003 Berlin [u.a.] : VDE Verl.GmbH, 2003 Incl.CD-ROM
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