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In-situ study of nanocrystalline Pt-KOH (1M) interface using X-ray diffraction method

Viswanath, R. N.; Weissmüller, J.; Würschum, R.; Gleiter, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-07-044749-7
KITopen-ID: 170059254
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Seiten 897-901
Erscheinungsvermerk Chakraborti, N. [Hrsg.] ICAMMP-2002 : Proc.of the Internat.Conf.on Advances in Materials and Materials Processing, Kharagpur, IND, February 1-3, 2002 New Delhi : Tata McGraw-Hill Publ.Com.Ltd., 2002
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