In-situ study of nanocrystalline Pt-KOH (1M) interface using X-ray diffraction method
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-07-044749-7 KITopen-ID: 170059254 |
| HGF-Programm | 42.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 897-901 |
| Erscheinungsvermerk | Chakraborti, N. [Hrsg.] ICAMMP-2002 : Proc.of the Internat.Conf.on Advances in Materials and Materials Processing, Kharagpur, IND, February 1-3, 2002 New Delhi : Tata McGraw-Hill Publ.Com.Ltd., 2002 |