The characterization of nanostructured copper-doped tin oxide films for gas sensor microarrays

Sysoev, V.; Kisin, V.; Frietsch, M.; Kiselev, I.; Habicht, W.; Bruns, M.; Goschnick, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 0-7803-8693-0 KITopen-ID: 170062161
HGF-Programm	41.05.01 (POF I, LK 01) MOX-Sensoren
Seiten	130-33
Erscheinungsvermerk	Rocha, D. [Hrsg.] IEEE Sensors 2004 : Proc.of the 3rd Internat.Conf., Wien, A, October 24-27, 2004 Piscataway, N.J. : IEEE, 2004 CD-ROM