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The characterization of nanostructured copper-doped tin oxide films for gas sensor microarrays

Sysoev, V.; Kisin, V.; Frietsch, M.; Kiselev, I.; Habicht, W.; Bruns, M.; Goschnick, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7803-8693-0
KITopen ID: 170062161
HGF-Programm 41.05.01; LK 01
Seiten 130-33
Erscheinungsvermerk Rocha, D. [Hrsg.] IEEE Sensors 2004 : Proc.of the 3rd Internat.Conf., Wien, A, October 24-27, 2004 Piscataway, N.J. : IEEE, 2004 CD-ROM
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