Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2007 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-0-8194-6397-5 KITopen-ID: 170070305 |
HGF-Programm | 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
Seiten | 6318-28/1-10 |
Erscheinungsvermerk | Bonse, U. [Hrsg.] Developments in X-Ray Tomography V : Proc.of Optics and Photonics 2006, San Diego, Calif., August 13-17, 2006 Bellingham, Wash. : SPIE, 2006 (SPIE Proceedings Series ; 6318) |