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Quantitative phase imaging and tomography with polychromatic X-rays

David, C.; Weitkamp, T.; Khan, T.; Pfeiffer, F.; Bunk, O.; Diaz, A.; Rohbeck, T.; Groso, A.; Stampanoni, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170070321
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Seiten 346-48
Erscheinungsvermerk Proc.of the 8th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy, Himeji, J, July 16-30, 2005 Tokyo : Institute of Pure and Applied Physics, 2006 (IPAP Conference Series ; 7)
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