Quantitative phase imaging and tomography with polychromatic X-rays

David, C.; Weitkamp, T.; Khan, T.; Pfeiffer, F.; Bunk, O.; Diaz, A.; Rohbeck, T.; Groso, A.; Stampanoni, M.

Seitenaufrufe: 43
seit 12.06.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170070321
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Seiten	346-48
Erscheinungsvermerk	Proc.of the 8th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy, Himeji, J, July 16-30, 2005 Tokyo : Institute of Pure and Applied Physics, 2006 (IPAP Conference Series ; 7)