Hard X-ray imaging and microscopy with lithographic CRL developed at ANKA synchrotron radiation facility

Simon, R.; Nazmov, V.; Reznikova, E.; Mohr, J.; Saile, V.

Seitenaufrufe: 53
seit 16.03.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170070323
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Seiten	115-16
Erscheinungsvermerk	Proc.of the 8th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy, Himeji, J, July 16-30, 2005 Tokyo : Institute of Pure and Applied Physics, 2006 (IPAP Conference Series ; 7)