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Numerical simulations of achromatic X-ray lenses

Umbach, M.; Nazmov, V.; Simon, M.; Last, A.; Saile, V.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.795222
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-7297-7
KITopen-ID: 170072439
HGF-Programm 43.04.03 (POF I, LK 01) Röntgenoptik
Erschienen in Advances in X-Ray/EUV Optics and Components III: Optical Engineering + Applications, 10-14 August 2008, San Diego, California, United States. Ed.: A. M. Khounsary
Veranstaltung SPIE Optical Engineering + Applications (2008), San Diego, CA, USA, 10.08.2008 – 14.08.2008
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Serie Proceedings of SPIE ; 7077
Erscheinungsvermerk Khounsary, A.M. [Hrsg.] Advances in X-Ray/EUV Optics and Components III : Proc.of SPIE Optics and Photonics 2008, San Diego, Calif., August 10-14, 2008 Bellingham, Wash. : SPIE, 2008 Paper 70770G (SPIE Proceedings Series ; 7077)
Nachgewiesen in Dimensions
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