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A self-tuning and process-specific approach in sensor lifetime prediction

Grube, M.; Mikut, R.; Alber, T.; Jagiella, M.; Bretthauer, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-00-025217-4
KITopen-ID: 170073633
HGF-Programm 43.01.04 (POF I, LK 01)
Seiten 59
Erscheinungsvermerk Eurosensors XXII, Dresden, September 7-10, 2008 Book of Abstracts Proc.on CD-ROM S. ?? - ?? Düsseldorf : VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik, 2008
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