Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-9810993-5-5 KITopen-ID: 170076150 |
HGF-Programm | 34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik |
Seiten | 393-97 |
Erscheinungsvermerk | Sensor and Test 2009 : 14th Internat.Conf.on Sensors, Technologies, Electronics and Applications, Nürnberg, May 26-28, 2009 Proc.Vol II Wunstorf : AMA Service GmbH, 2009 |