Tolerance compensation in micro-optics
Sieber, I.
; Dickerhof, M.; Schmidt, A.
; Dickerhof, M.; Schmidt, A.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-8194-7723-1 KITopen-ID: 170077368 |
| HGF-Programm | 43.01.04 (POF II, LK 01) Systemintegration |
| Seiten | 74330 |
| Erscheinungsvermerk | Sasian, J. [Hrsg.] Optical System alignment, Tolerancing, and Verification III : Proc.of SPIE Optics and Photonics 2009, San Diego, Calif., August 2-3, 2009 Bellingham, Wash. : SPIE, 2009 G/1-10 (Proceedings of SPIE ; 7433) |