Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 170080110 |
HGF-Programm | 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics |
Seiten | 780408 |
Erscheinungsvermerk | SPIE Optics and Photonics Conf., San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 (Proceedings of SPIE ; 7804) |
Nachgewiesen in | Dimensions |