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X-ray grating interferometer for imaging at a second-generation synchrotron radiation source

Herzen, J.; Beckmann, F.; Donath, T.; Ogurreck, M.; David, C.; Pfeiffer, F.; Mohr, J.; Reznikova, E.; Riekehr, S.; Haibel, A.; Schulz, G.; Müller, B.; Schreyer, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1117/12.860733
KITopen ID: 170080479
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Seiten 780407/1-10
Erscheinungsvermerk Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 (Proceedings of SPIE ; 7804)
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