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Micro- and nano-tomography at the GKSS imaging beamline at PETRA III

Haibel, A.; Ogurreck, M.; Beckmann, F.; Dose, T.; Wilde, F.; Herzen, J.; Müller, M.; Schreyer, A.; Nazmov, V.; Simon, M.; Last, A.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1117/12.860852
KITopen ID: 170080480
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Seiten 78040
Erscheinungsvermerk Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 B/1-8 (Proceedings of SPIE ; 7804)
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