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Micro- and nano-tomography at the GKSS imaging beamline at PETRA III

Haibel, A.; Ogurreck, M.; Beckmann, F.; Dose, T.; Wilde, F.; Herzen, J.; Müller, M.; Schreyer, A.; Nazmov, V.; Simon, M.; Last, A.; Mohr, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.860852
Dimensions
Zitationen: 28
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 170080480
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Developments in X-Ray Tomography VII: Spie Optical Engineering + Applications, 1-5 August 2010. Ed.: S. R. Stock
Veranstaltung SPIE Optical Engineering + Applications (2010), San Diego, CA, USA, 01.08.2010 – 05.08.2010
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Serie Proceedings of SPIE ; 7804
Erscheinungsvermerk Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 B/1-8 (Proceedings of SPIE ; 7804)
Nachgewiesen in Dimensions
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