Recent developments in X-ray talbot interferometry at ESRF-ID19

Weitkamp, T.; Zanette, I.; David, C.; Baruchel, J.; Bech, M.; Bernard, P.; Deyhle, H.; Donath, T.; Kenntner, J.; Lang, S.; Mohr, J.; Müller, B.; Pfeiffer, F.; Reznikova, E.; Rutishauser, S.; Schulz, G.; Tapfer, A.; Valade, J. P.

doi:10.1117/12.860203

Recent developments in X-ray talbot interferometry at ESRF-ID19

Weitkamp, T.; Zanette, I.; David, C.; Baruchel, J.; Bech, M.; Bernard, P.; Deyhle, H.; Donath, T.; Kenntner, J.; Lang, S.; Mohr, J.; Müller, B.; Pfeiffer, F.; Reznikova, E.; Rutishauser, S.; Schulz, G.; Tapfer, A.; Valade, J. P.

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DOI: 10.1117/12.860203

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 170080705
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Seiten	780406/1-9
Erscheinungsvermerk	Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 (Proceedings of SPIE ; 7804)
Nachgewiesen in	Dimensions

Repository KITopen

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