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Recent developments in X-ray talbot interferometry at ESRF-ID19

Weitkamp, T.; Zanette, I.; David, C.; Baruchel, J.; Bech, M.; Bernard, P.; Deyhle, H.; Donath, T.; Kenntner, J.; Lang, S.; Mohr, J.; Müller, B.; Pfeiffer, F.; Reznikova, E.; Rutishauser, S.; Schulz, G.; Tapfer, A.; Valade, J.P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1117/12.860203
KITopen ID: 170080705
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Seiten 780406/1-9
Erscheinungsvermerk Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 (Proceedings of SPIE ; 7804)
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