Electron tomography of nanostructured materials. Towards quantitative 3D analysis with nanometer resolution
Kübel, C.
; Niemeyer, D.; Cieslinski, R.; Rozeveld, S.
; Niemeyer, D.; Cieslinski, R.; Rozeveld, S.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-87849-294-7 KITopen-ID: 170080788 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Seiten | 2517-22 |
| Erscheinungsvermerk | Chandra, T. [Hrsg.] Proc.of the 6th Internat.Conf.on Processing and Manufacturing of Advanced Materials (THERMEC'2009), Berlin, August 25-29, 2009 Stafa-Zürich : Trans Tech Publ., 2010 (Materials Science Forum ; 638-642) |