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Electron tomography of nanostructured materials. Towards quantitative 3D analysis with nanometer resolution

Kübel, C.; Niemeyer, D.; Cieslinski, R.; Rozeveld, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-87849-294-7
KITopen ID: 170080788
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Seiten 2517-22
Erscheinungsvermerk Chandra, T. [Hrsg.] Proc.of the 6th Internat.Conf.on Processing and Manufacturing of Advanced Materials (THERMEC'2009), Berlin, August 25-29, 2009 Stafa-Zürich : Trans Tech Publ., 2010 (Materials Science Forum ; 638-642)
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