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Measurement of DPN-ink viscosity using an AFM cantilever

Biswas, S.; Hirtz, M.; Lenhert, S.; Fuchs, H.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/170080871
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4398-3402-2
KITopen-ID: 170080871
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Seiten 231-34
Erscheinungsvermerk Nanotechnology 2010 : Electronics, Devices, Fabrication, MEMS, Fluidics and Computational, Anaheim, Calif., June 21-24, 2010 Proc.on CD-ROM Vol.2 Danville, Calif. : NSTI, 2010
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