| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nukleare Entsorgung (INE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7354-0764-0 KITopen-ID: 170081092 |
| HGF-Programm | 32.27.02 (POF II, LK 01) Anwendungsorientierte Untersuchungen |
| Seiten | 181-87 |
| Erscheinungsvermerk | Denecke, M.A. [Hrsg.] X-Ray Optics and Microanalysis : Proc.of the 20th Internat.Congress, Karlsruhe, September 15-18, 2009 Melville, N.Y.: AIP, 2010 (AIP Conference Proceedings ; 1221) Also publ.online |