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Fatigue testing of thin films

Burger, S.; Rupp, B.; Ludwig, A.; Kraft, O.; Eberl, C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-03785-006-0
KITopen-ID: 170082063
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Seiten 552-555
Erscheinungsvermerk Sandera, P. [Hrsg.] Selected, Peer-reviewed Papers from the 6th Internat.Conf.'Materials Structure and Micromechanics of Fracture (MSMF-6)', Brno, CZ, June 28-30, 2010 Stafa-Zuerich : Trans Tech Publ., 2011 (Key Engineering Materials ; 465)
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