Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2011 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4244-9104-9 KITopen-ID: 170083225 |
HGF-Programm | 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics |
Seiten | 3176-3178 |
Erscheinungsvermerk | Ziock, K. [Hrsg.] IEEE Nuclear Science Symp. (NSS 2010) and Medical Imaging Conf. (MIC 2010), Knoxville, Tenn., October 30 - November 5, 2010 Proc.on DVD-ROM Piscataway, N.J. : IEEE, 2011 |