Performance analysis of X-ray phase-contrast interferometers with respect to grating layouts

Haas, W.; Bartl, P.; Bayer, F.; Durst, J.; Grund, T.; Kenntner, J.; Michel, T.; Ritter, A.; Weber, T.; Anton, G.; Hornegger, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-4244-9104-9 KITopen-ID: 170083225
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Seiten	3176-3178
Erscheinungsvermerk	Ziock, K. [Hrsg.] IEEE Nuclear Science Symp. (NSS 2010) and Medical Imaging Conf. (MIC 2010), Knoxville, Tenn., October 30 - November 5, 2010 Proc.on DVD-ROM Piscataway, N.J. : IEEE, 2011