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Refractive optics for hard X-ray transmission microscopy

Simon, M.; Ahrens, G.; Last, A.; Mohr, J.; Nazmov, V.; Reznikova, E.; Voigt, A.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3625341
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7354-0925-5
KITopen-ID: 170085001
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in The 10th International Conference on X-ray Microscopy. Ed.: I. McNulty
Veranstaltung 10th International Conference on X-Ray Microscopy (2010), Chicago, IL, USA, 15.08.2010 – 20.08.2010
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Seiten 208-211
Serie AIP Conference Proceedings ; 1365
Erscheinungsvermerk McNulty, I. [Hrsg.] Proc.of the 10th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy (XRM2010), Chicago, Ill., August 15-20, 2010 Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2011 (AIP Conference Proceedings ; 1365)
Nachgewiesen in Dimensions
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