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Towards in situ-process control in tribological or tool applications: A material concept for the design of smart thin film wear sensors

Ulrich, S.; Klever, C.; Leiste, H.; Seemann, K.; Stüber, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-94-007-0902-7
KITopen ID: 170086012
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Seiten 519-527
Erscheinungsvermerk Reithmaier, J.P. [Hrsg.] Nanotechnological Basis for Advanced Sensors : Proc.of theNATO Advanced Study Institute on Nanotechnological Basis for Advanced Sensors, Sozopol, BG, May 30 - June 11, 2011 Dordrech, NL : Springer Science and Business Media B.V., 2011 (NATO Science for Peace and Security Series : Series B: Pbysics and Biophysics)
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