Towards in situ-process control in tribological or tool applications: A material concept for the design of smart thin film wear sensors
Ulrich, S.; Klever, C.; Leiste, H.; Seemann, K.
; Stüber, M.
; Stüber, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-94-007-0902-7 KITopen-ID: 170086012 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Seiten | 519-527 |
| Erscheinungsvermerk | Reithmaier, J.P. [Hrsg.] Nanotechnological Basis for Advanced Sensors : Proc.of theNATO Advanced Study Institute on Nanotechnological Basis for Advanced Sensors, Sozopol, BG, May 30 - June 11, 2011 Dordrech, NL : Springer Science and Business Media B.V., 2011 (NATO Science for Peace and Security Series : Series B: Pbysics and Biophysics) |