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Integration of measurement data in the comprehensive modelling approach

Sieber, I. ORCID iD icon 1; Rübenach, O.
1 Institut für Angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2026988
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Zitationen: 6
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9747-5
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 170093342
HGF-Programm 43.14.03 (POF II, LK 01) System integration
Erschienen in Optifab 2013, Rochester, N.Y., October 14-17, 2013. Ed.: J. Bentley
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten Article no 88841F
Serie Proceedings of SPIE ; 8884
Nachgewiesen in Dimensions
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