Integration of measurement data in the comprehensive modelling approach
Sieber, I.
1; Rübenach, O.
1 Institut für Angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Rübenach, O.1 Institut für Angewandte Informatik (IAI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-8194-9747-5 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 170093342 |
| HGF-Programm | 43.14.03 (POF II, LK 01) System integration |
| Erschienen in | Optifab 2013, Rochester, N.Y., October 14-17, 2013. Ed.: J. Bentley |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Article no 88841F |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 8884 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |