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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ULTSYM.2013.0098
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Zitationen: 5

Evaluation of phase aberration correction for a 3D USCT using a ray trace based simulation

Kretzek, E.; Dapp, R.; Zapf, M.; Birk, M.; Ruiter, N.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-5686-2
KITopen ID: 170093734
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erschienen in 2013 IEEE International Ultrasonics Symposium, IUS 2013, Praha, CZ, July 21-25, 2013
Verlag IEEE, Piscataway, N.J.
Seiten 378-381
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