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In-situ deformation analysis of nanocrystalline metals by quantitative ACOM-STEM

Kübel, C.; Kobler, A.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-12-407700-3
KITopen-ID: 170094169
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erschienen in In-Situ and Correlative Electron Microscopy: Proceedings of the Conference, Saarbrücken, 6.-7. November 2012. Hrsg.: P. Hawkes
Verlag Elsevier, Amsterdam
Seiten 172-174
Serie Advances in Imaging and Electron Physics ; 179
Nachgewiesen in Web of Science
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