In-situ deformation analysis of nanocrystalline metals by quantitative ACOM-STEM
Kübel, C.
1; Kobler, A. 1; Hahn, H. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Kobler, A. 1; Hahn, H. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-12-407700-3 KITopen-ID: 170094169 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | In-Situ and Correlative Electron Microscopy: Proceedings of the Conference, Saarbrücken, 6.-7. November 2012. Hrsg.: P. Hawkes |
| Verlag | Elsevier |
| Seiten | 172-174 |
| Serie | Advances in Imaging and Electron Physics ; 179 |
| Nachgewiesen in | Web of Science |