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Gitterstrukturen mit hohem Aspektverhältnis für eine neuartige auf Phasen- und Dunkelfeldkontrast beruhende Röntgenbildgebung

Meiser, J.; Kunka, D.; Meyer, P.; Koch, F.; Amberger, M.; Schulz, J.; Walter, M.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3555-6
KITopen-ID: 170094210
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Von Bauelementen zu Systemen : MikroSystemTechnik Kongress 2013, Aachen, 14.-16. Oktober 2013
Veranstaltung 5. MikroSystemTechnik Kongress (2013), Aachen, Deutschland, 14.10.2013 – 16.10.2013
Verlag VDE Verlag
Seiten 450-452
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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