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Gitterstrukturen mit hohem Aspektverhältnis für eine neuartige auf Phasen- und Dunkelfeldkontrast beruhende Röntgenbildgebung

Meiser, J.; Kunka, D.; Meyer, P.; Koch, F.; Amberger, M.; Schulz, J.; Walter, M.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3555-6
KITopen ID: 170094210
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Von Bauelementen zu Systemen : MikroSystemTechnik Kongress 2013, Aachen, 14.- 16.Oktober 2013
Verlag VDE-Verlag, Berlin
Seiten 450-452
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