Performance analysis of X-ray phase-contrast interferometers with respect to grating layouts

Haas, W.; Bartl, P.; Bayer, F.; Durst, J.; Grund, T.; Kenntner, J.; Michel, T.; Ritter, A.; Weber, T.; Anton, G.; Hornegger, J.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Jahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	DOI: 10.1109/NSSMIC.2010.5874388 ISBN: 978-1-4244-9106-3 KITopen ID: 170094650
HGF-Programm	43.14.02; LK 01
Seiten	3176-3178
Erscheinungsvermerk	Proceedings of IEEE Nuclear Science Symp. (NSS 2010), Knoxville, Tenn., October 30 - November 6, 2010 Piscataway, N.J. : IEEE, 2010