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Performance analysis of X-ray phase-contrast interferometers with respect to grating layouts

Haas, W.; Bartl, P.; Bayer, F.; Durst, J.; Grund, T.; Kenntner, J.; Michel, T.; Ritter, A.; Weber, T.; Anton, G.; Hornegger, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/NSSMIC.2010.5874388
ISBN: 978-1-4244-9106-3
KITopen ID: 170094650
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Seiten 3176-3178
Erscheinungsvermerk Proceedings of IEEE Nuclear Science Symp. (NSS 2010), Knoxville, Tenn., October 30 - November 6, 2010 Piscataway, N.J. : IEEE, 2010
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