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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4860635
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Zitationen: 2

Test of by-pass diodes at cryogenic temperatures for the KATRIN magnets

Gil, W.; Bolz, H.; Jansen, A.; Müller, K.; Steidl, M.; Hagedorn, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7354-1204-0
ISSN: 0094-243X
KITopen ID: 170095151
HGF-Programm 51.54.01; LK 02
Erschienen in 2013 Joint Cryogenic Engineering and International Cryogenic Materials Conferences, ICMC 2013; Anchorage, AK, June 17-21, 2013. Ed.: U. Balachandran
Verlag AIP, Melville, N.Y.
Seiten 274-280
Serie AIP Conference Proceedings ; 1574
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