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Refractive optical elements and opticl system for high energy X-ray microscopy

Simon, M.; Altapova, V.; Baumbach, T.; Kluge, M.; Last, A.; Marschall, F.; Mohr, J.; Nazmov, V.; Vogt, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1063/1.3703354
ISBN: 978-0-7354-1027-5
KITopen ID: 170096529
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Perez, C.A. [Hrsg.] X-Ray Optics and Microanalysis : Proc.of the 21st Internat. Congress, Campinas, BR, September 5-9, 2011 Melville, N.Y. : AIP, 2012 (AIP Conference Proceedings ; 1437)
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