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Integrated control system environment for high-throughput tomography

Khokhriakov, I.; Lottermoser, L.; Gehrke, R.; Kracht, T.; Wintersberger, E.; Kopmann, A.; Vogelgesang, M.; Beckmann, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-6284-1239-0
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 170098810
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Developments in X-Ray Tomography IX : Proceedings of Optics and Photonics 2014, San Diego, CA, August 18-20, 2014. Ed.: S. R. Stock
Verlag SPIE, Bellingham, WA
Seiten Article no 921217
Serie Proceedings of SPIE ; 9212
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