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Optical measurements of heat treated silica samples

Mazzocchi, F. ORCID iD icon 1; Scherer, T. 1; Saavedra, R.; Martinez, P. M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-8272-1
KITopen-ID: 170101930
HGF-Programm 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering
Erschienen in Proceedings of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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