Optical measurements of heat treated silica samples
Mazzocchi, F.
1; Scherer, T. 1; Saavedra, R.; Martinez, P. M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Scherer, T. 1; Saavedra, R.; Martinez, P. M.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-8272-1 KITopen-ID: 170101930 |
| HGF-Programm | 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering |
| Erschienen in | Proceedings of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |