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Optical measurements of heat treated silica samples

Mazzocchi, F.; Scherer, T.; Saavedra, R.; Martinez, P.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/IRMMW-THz.2015.7327424
ISBN: 978-1-4799-8272-1
KITopen ID: 170101930
HGF-Programm 31.30.04; LK 01
Erschienen in Proceedings of the 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2015), Hong Kong, China, August 23-28, 2015
Verlag IEEE, Piscataway, N.J.
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