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Evaluation of directional reflectivity characteristics as new modality for 3D ultrasound computer tomography

Kretzek, E.; Hucker, P.; Zapf, M.; Ruiter, N.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ULTSYM.2015.0182
ISBN: 978-1-4799-8182-3
KITopen ID: 170103152
HGF-Programm 54.02.02; LK 01
Erschienen in Proceedings of the IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS 2015), Taipei, Taiwan, October 21-24, 2015
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten Article no 7329233
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