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Robuste Erkennung von kombinierten Positions- und Identifizierungs-Mikromarkierungen

Förtsch, T.C.; Bojncic-Kninski, C.von; Khan, M.S.; Märkle, F.; Weber, L.K.; Fischer, A.; Münster, B.; Ridder, B.; Althuon, D.; Strifler, J.; Sedlmayr, M.; Bykovskya, V.; Popov, R.; Soehindrijo, M.; Breitling, F.; Löffler, F.F.; Nesterov-Müller, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-4100-7
KITopen ID: 170103455
HGF-Programm 47.01.03; LK 01
Erschienen in MikroSystemTechnik Kongress 2015, Karlsruhe, 26.-28.Oktober 2015
Verlag VDE, Berlin
Seiten 748-750
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