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Particle characterization by projected area determination

Gutsch, Andreas; Umhauer, Heinz; Löffler, Friedrich



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 170894
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 1st International Particle Technology Forum, Denver, USA 1994. Part 1. S. 101-106.
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