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DOI: 10.5445/IR/171992

Analyse organischer Verbindungen mit Sekundaer-Neutralteilchen-Massen- Spektrometrie (SNMS) und Sekundaer-Ionen- Massen-Spektrometrie (SIMS)

Ewinger, Hans-Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (Inst. f. Radiochem.)
Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1992
Sprache Deutsch
Identifikator URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA1719927
KITopen ID: 171992
Reportnummer: KFK-5114
HGF-Programm 22.02.04; LK 01
Serie KfK-Berichte ; 5114
Abschlussart Dissertation
Prüfungsdaten Diss. v. 5.6.1992
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