Tandem time-of-flight mass spectrometer for cluster-surface scattering experiments

Beck, Rainer D.; Weis, Patrick; Braeuchle, Götz; Rockenberger, Jörg

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Chemie – Institut für Physikalische Chemie und Elektrochemie (Inst. f. Physikal. Chemie u. Elektrochem.)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 172495
Erscheinungsvermerk	Rev. of sci. instrum. 66 (1995) S. 4188.