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Tandem time-of-flight mass spectrometer for cluster-surface scattering experiments

Beck, Rainer D.; Weis, Patrick; Braeuchle, Götz; Rockenberger, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Physikalische Chemie und Elektrochemie (Inst. f. Physikal. Chemie u. Elektrochem.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 172495
Erscheinungsvermerk Rev. of sci. instrum. 66 (1995) S. 4188.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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