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Comparison of ray-tracing results with indoor measurements

Zwick, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 17342000
Erscheinungsvermerk In: COST-259, Valencia, Spain, January 2000. TD (00)031.
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