Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
Publikationstyp | Buchaufsatz |
Publikationsjahr | 1992 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | KITopen-ID: 178392 |
Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Vertraeglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1992. S. 441-450. |