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Ein leitungstheoretischer Ansatz zur Berechnung der durch TEM-Wellen in Mikrostreifenleitungen eingekoppelten Stoerspannungen

Benz, Thomas; Miller, Juergen; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 178392
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Vertraeglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1992. S. 441-450.
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