Parameterstudien zum Problem des Uebersprechens auf Leiterplatten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 178492 |
| Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Vertraeglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1992. S. 451-461. |