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Parameterstudien zum Problem des Uebersprechens auf Leiterplatten

Benz, Thomas; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 178492
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Vertraeglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1992. S. 451-461.
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