Messverfahren zur Ermittlung der Schirmqualitaet geschirmter Leitungen gegenueber elektromagnetischen Stoergroessen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 178592 |
| Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Vertraeglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1992. S. 865-872. |