KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

An improved technique for X-ray residual stress determinations on ceramics with steep subsurface stress gradients

Eigenmann, Bernd; Scholtes, Berthold; Macherauch, Eckard


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 179892
Erscheinungsvermerk In: Residual stresses III: Science and technology. Ed.: H. Fujiwara. London 1992. Vol. 1. S. 601-606.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page