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An improved technique for X-ray residual stress determinations on ceramics with steep subsurface stress gradients

Eigenmann, Bernd; Scholtes, Berthold; Macherauch, Eckard



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 179892
Erscheinungsvermerk In: Residual stresses III: Science and technology. Ed.: H. Fujiwara. London 1992. Vol. 1. S. 601-606.
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