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Diagnosesystem fuer vernetzte Mikrosysteme

Bender, Klaus; Bergmann, Jochen; Kranz, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 1993
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 182193
Erscheinungsvermerk Mikro-Elektron., Fachbeil. Mikrosystemtech. 7 (1993) H. 4 S. LII-LIII.
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