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ATPG for gate-delay faults based on conventional scan-design

Kunzmann, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 183393
Erscheinungsvermerk In: 5th International Symposium on IC Technology, Systems & Applications, Singapore Nanyang Tech. Univ. 1993. S. 91-94.
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