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Optimized self-test for deterministic test patterns using random patterns

Kunzmann, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 183593
Erscheinungsvermerk In: International IFIP Workshop on Logic and Architecture Synthesis, Grenoble, France 1993. INPG Grenoble. S. 433-438.
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