Optimized self-test for deterministic test patterns using random patterns
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 183593 |
| Erscheinungsvermerk | In: International IFIP Workshop on Logic and Architecture Synthesis, Grenoble, France 1993. INPG Grenoble. S. 433-438. |