Self-test of sequential circuits with deterministic test pattern sequences
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 183693 |
| Erscheinungsvermerk | In: International Workshop of Design, Test & Manufacture, Texas 1993. MCC/USA. |