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Self-test of sequential circuits with deterministic test pattern sequences

Kunzmann, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 183693
Erscheinungsvermerk In: International Workshop of Design, Test & Manufacture, Texas 1993. MCC/USA.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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