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Is it useful to know a nuisance parameter?

Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0165-1684
KITopen-ID: 183798
Erschienen in Signal Processing
Verlag Elsevier
Band 67
Heft 1
Seiten 107 - 111
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