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Quantifizierung von Drallerscheinungen an geschliffenen Wellendichtflächen mit Methoden der Bildverarbeitung

Krahe, Doris; Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-8007-2330-1
ISSN: 0341-0196
KITopen-ID: 184098
Erschienen in Sensoren und Meßtechnik - Vorträge der ITG-Fachtagung, 9. bis 11. März 1998
Verlag VDE Verlag
Seiten 639 - 645
Serie ITG-Fachbericht ; 148
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