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Curvature measurement of specular surfaces with a structured-lighting reflection technique

Perard, Denis


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 184598
Erschienen in 12th IAR annual meeting - proceedings, 19th - 20th November 1998
Verlag Univ. de Haute Alsace
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