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Investigations on the limitations of the FE-analysis of micro-devices

Albers, Albert; Metz, Daniel



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Maschinenkonstruktionslehre und Kraftfahrzeugbau (Inst. f. Masch.-Konstr.-Lehre u. Kraftfahrzeugbau)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1862003
Erschienen in Proceedings of the 4th International Topical Conference, European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen), 18.05.- 20.05., 2003, Aachen, Germany
Verlag Aachen
Seiten 121-124
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