Model-based analysis of striation patterns in forensic science
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-8194-3906-1 ISSN: 0038-7355 KITopen-ID: 18642000 |
| Erschienen in | Enabling technologies for law enforcement and security. Ed.: S. K. Bramble |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Serie | Proceedings / SPIE ; 4232 |