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Model-based analysis of striation patterns in forensic science

Heizmann, Michael; Puente Leon, Fernando


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8194-3906-1
ISSN: 0038-7355
KITopen-ID: 18642000
Erschienen in Enabling technologies for law enforcement and security. Ed.: S. K. Bramble
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Serie Proceedings / SPIE ; 4232
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