Behavior of the metal-oxide-liquid-interface

Julliard, Yannick; Badent, Rainer; Kist, Klaus; Schwab, Adolf J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 19192000
Erscheinungsvermerk	In: Conference proceedings of the IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, Victoria B.C., Canada 2000.